场发射扫描电镜
型号：SIGMA 厂家：卡尔蔡司
各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体/晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。
二次电子像分辨率：
1.3nm（20KV）
2.5nm（15KV）
2.8nm（1KV）
放大倍率：12×~1000,000
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